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  • 近紅外光譜儀(900-2200nm 信噪比2788:1)

    近紅外光譜儀(900-2200nm 信噪比2788:1) 該系列光譜儀專為高性能光譜分析而設計，提供優秀的精度和可靠性。NR 光譜儀專為在復雜弱光環境下表現出色而設計，其光學分辨率高達 2.85 nm FWHM，可實現精細的峰值鑒別。

    更新時間：2026-01-07
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  • SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm（機器視覺）

    SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm（機器視覺） 產品總覽 SPECT-100 vis nir1 nir2型光譜成像單元,光譜成像是一種通過二維捕捉物體，獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過光譜分析每個部分的數據，可以獲得材料的物理和化學信息并將其顯示為圖像。

    更新時間：2024-12-08
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  • 極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT

    極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振） 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。

    更新時間：2024-12-08
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  • 可見光 空間分辨率光譜儀 380-780nm

    可見光 空間分辨率光譜儀 380-780nm 產品總覽 空間分辨率光譜儀SRS1-vis（可見光型）

    更新時間：2024-12-08
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  • 軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（顯微OCT掃頻測振）

    軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（顯微OCT掃頻測振） 軟磁層的非接觸式評估系統，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。

    更新時間：2026-08-05
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