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P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
RFLDM-RF射頻激光二極管驅動（控制/電源）
IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X3.0mm（晶體/棱鏡
2x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
日本精工法蘭FC/UPC（連接線）
CO2激光光譜分析儀
WISTSense Point 緊湊型高精度光纖傳感器解調儀（信號解調/鎖相放大器等）
超高功率光束質量分析儀
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
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產品分類
EVOS M5000 成像系統（顯微OCT掃頻測振/磁光克） EVOS M5000 成像系統是一款數字倒置顯微鏡，適用于四色熒光、透射光和彩色成像。
更新時間：2025-09-26
產品型號：EVOS M5000.
瀏覽量：2228
多光子顯微鏡（OCT掃頻測振） 具備深層穿透能力且高靈敏度的體內成像顯微鏡 產品特點 廣角采集功能，可在散射樣本深處實現更高的信噪比 模塊化選項，支持光遺傳學、高速掃描及熒光壽命升級 實時應用界面，便于訪問數據并配置自動化反饋實驗
更新時間：2025-11-10產品型號：瀏覽量：1610
掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT）） 掃描開爾文探頭可以測量 CPD（接觸電位差）值，評估半導體和導電材料的功函數。測量不僅可以在樣品表面的單點進行，還可以對整個表面進行掃描。 功函數測量在半導體物理學中te別有用，因為它提供了被測材料費米級的位置。
更新時間：2025-11-11產品型號：瀏覽量：1842
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
更新時間：2024-12-05產品型號：FS70L4-TH瀏覽量：1841
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